基于TMS320F2812实现数字式闪变仪的应用方案

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基于TMS320F2812实现数字式闪变仪的应用方案

2020-08-25 03:01:51

　　来源：微计算机信息，作者：王勤湧，罗家融，舒双宝，李实

引言

中国科学院等离子体物理研究所全超导非圆截面核聚变实验装置 EAST（Experimental Advanced Superconducting Tokamak）由 110KV变电所供电，其负荷对电网构成了极高容量的频繁冲击，可能破坏高压电网与电源系统的电磁兼容，造成电压波动，使一些仪器无法正常工作甚至损坏，闪变便是由电压波动引起的。

国际电热协会（UIE）和国际电工委员会（IEC）经过多年的研究，制定了国际统一的闪变定义和评价标准，提出了闪变仪的数学模型和设计规范。其闪变仪模型如图 1所示。

基于TMS320F2812实现数字式闪变仪的应用方案

本文将以此模型为基础，利用 TMS320F2812实现数字式闪变仪，并按照相关标准对闪变仪进行测试，测试结果表明，每经过 10分钟，闪变仪都能及时地对大量数据进行处理，并能迅速得到相应的短时闪变值，具有很强的实时性，而且计算结果能满足精度要求。

1 闪变值计算的模型原理分析

IEC推荐的闪变仪按照框图可分为以下几个部分。

框 1是对信号进行调理，将市电电压调节到合适大小后输入，这部分不涉及算法。

框 2起模拟灯的作用，用平方检测方法从工频电压波动中解调出反映电压波动的调幅波。解调由截止频率为 35Hz的六阶巴特沃斯低通滤波器和截止频率为 0.05Hz的一阶高通滤波器完成。

六阶巴特沃斯低通滤波器的传递函数为

框 4包含一个平方器和时间常数为 300ms的低通滤波器，用来模拟灯 -眼-脑环节对灯光照度变化的暂态非线性响应和记忆效应。

框 5为闪变的统计分析，即根据框 4输出的 S（t）值进行在线统计分析。将 S（t）值分级并用积累概率函数 CPF的方法进行分析，在观察期内（ 10min），对上述信号进行统计，利用 5个规定值，计算得出短时闪变值，表达式如下

2 闪变分析仪的硬件结构闪变仪的硬件结构大致分为 3个部分。结构如图 2所示。

第一部分为前端信号调理及 AD采集电路，前端信号调理电路将输入的工频信号调整到-10V～+10V的范围，并经过 LM2902集成运放器提高输入阻抗后再输入AD。AD芯片采用 AD7656，AD7656为 6通道 16位、快速、低功耗、逐次逼近型ADC，输入范围可选择-10V～+10V或-5V～+5V。其内核采用 4.5V至 5.5 V单电源供电，最高采样率可达 250 kSPS。该器件内置低噪声、宽带宽采样保持放大器，可处理最高 8 MHz的输入频率，在本案中设置其采样率为400Hz，用 DSP的定时器模块定时触发 AD采样。

第二部分为 DSP相关电路，包括电源模块电路，复位电路，晶振电路，SCI模块，存储模块等。DSP与 AD的硬件连接如图 3所示。

AD7656内部含 2.5V参考电压同时也支持外部参考电压，复位时默认为外部参考，本案设计使用的是内部参考电压。当 H/SSEL=0且 REFEN=1时，内部2.5V参考电压启用，再将 RANGE引脚接低电平，AD的输入范围便为±4×VREF =±10V 。

DSP2812的定时器发出定时中断并由 GPIOA0引脚输出一个上升沿启动 AD转换，在转换期间 BUSY信号为高电平，转化完成后 BUSY变为低电平，所以可通过 BUSY向 2812发出下降沿外部中断请求，并在此中断请求处理函数中完成对数字信号的存储。

第三部分为实时显示部分，由 ARM模块实现，ARM核心采用三星公司 s3c2410芯片，外部扩展了 LCD触摸屏，用户可通过触摸屏控制闪变仪工作。

3 闪变分析仪的软件设计

下面介绍 DSP软件算法结构。在采样率为 400Hz时，若经 10分钟后才对数据（约 234k）进行处理，数据量很大，处理过程将很慢，严重影响实时性能。本文采用分时处理方法， AD采集 6s的数据后，马上对这 6s的数据进行处理，算出此 6s的瞬时闪变值并进行存储，当处理掉 100个 6s也即计算时间到达 10分钟时，将对这 10分钟内的瞬时闪变值进行统计分析，最终得到 5个特征值后代入公式得到短时闪变值。图4为程序流程图。其中ARM模块承担着开始 /结束控制信号的发送和最终结果的显示等终端功能的实现，用户可通过触摸屏发送开始/结束控制信号， DSP在收到信号后将开始/结束定时器工作，进而开始/结束 AD采样。