在桥式结构中的注意事项—探头的CMRR
电子元件2026-03-09
在对桥式结构中的高边（HS）MOSFET进行测试时，通常使用高压差分探头或差分探头（*4）来观测波形，但所用探头的共模抑制比（CMRR）在高频区域可能会降低，波形波动可能会增加。
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电子元件2026-03-09
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