工艺可靠性电迁移EM测试
电子元件2026-03-05
电迁移是金属线在电流和温度作用下产生的金属迁移现象——运动中的电子和主体金属晶格之间相互交换动量，金属原子沿电子流方向迁移时，就会在原有位置上形成空洞，同时在金属原子迁移堆积形成丘状突起。
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标称容量与允许偏差
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电容器的种类
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